Surtronic S116 粗糙度儀

Surtronic S116是泰勒霍普森實驗室和質(zhì)量控制中心推出的粗糙度儀。該儀器采用高剛性花崗巖基座與精密導(dǎo)軌系統(tǒng)，確保測量過程中的穩(wěn)定性，垂直分辨率可達0.1 nm，行程長度達16 mm，滿足最嚴苛的表面評估需求。S116支持全自動測量流程，包括自動校準、自動定位、多點測量與統(tǒng)計分析，兼容ISO、ASME、JIS等多種國際標準。其配套的TalyProfile軟件提供強大的數(shù)據(jù)處理能力，可生成3D輪廓圖、頻譜分析、濾波曲線及定制化報告。設(shè)備還配備電動升降Z軸和可編程X軸驅(qū)動，實現(xiàn)無人值守批量檢測。Surtronic S116廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、醫(yī)療器械、精密軸承和科研領(lǐng)域，是追求高重復(fù)性、高精度表面粗糙度分析用戶的理想選擇。