勒霍普森DUO粗糙度儀：雙模式測量的高效之選

泰勒霍普森DUO粗糙度儀是一款創(chuàng)新的雙模式表面粗糙度測量設(shè)備，集接觸式探針測量與非接觸式光學(xué)測量于一體，滿足現(xiàn)代制造中多樣化、高效率的檢測需求。DUO專為車間現(xiàn)場與質(zhì)量實驗室設(shè)計，適用于金屬、塑料、陶瓷等多種材料表面，廣泛應(yīng)用于汽車零部件、精密模具、電子元件等領(lǐng)域。

該儀器采用高精度直線導(dǎo)軌與低摩擦探針系統(tǒng)，確保接觸式測量的穩(wěn)定性和重復(fù)性，可精確獲取Ra、Rz、Rq等傳統(tǒng)粗糙度參數(shù)。同時，集成的共聚焦或白光干涉光學(xué)頭可在不接觸工件的情況下完成快速掃描，特別適合軟質(zhì)、易損或復(fù)雜曲面的測量。兩種模式可在同一平臺上自由切換，用戶無需更換設(shè)備即可完成不同類型的檢測任務(wù)。

DUO配備直觀的觸摸屏界面與TalyProfile®軟件，支持一鍵式測量、自動判別與報告生成。內(nèi)置環(huán)境補償與振動抑制技術(shù)，保障在工業(yè)環(huán)境下的測量可靠性。輕巧緊湊的設(shè)計便于移動使用，同時支持數(shù)據(jù)導(dǎo)出與SPC統(tǒng)計分析，助力企業(yè)實現(xiàn)全面質(zhì)量管理。泰勒霍普森DUO粗糙度儀以其靈活性、精度與易用性，重新定義了表面粗糙度測量的標準，是現(xiàn)代智能制造的質(zhì)量守護者。