費希爾測厚儀DualScope DMP20信息測量原理與核心性能

測量原理

菲希爾 DualScope DMP20 測厚儀整合兩種經(jīng)典測量技術(shù)，滿足不同基材與涂層的檢測需求：

磁感應(yīng)法：遵循 DIN EN ISO 2178 標(biāo)準(zhǔn)，針對鐵、鋼等磁性金屬基材，通過檢測涂層對磁場的影響，精準(zhǔn)計算非磁性涂層（如油漆、鍍鉻層）的厚度。

電渦流法：依據(jù) DIN EN ISO 2360 標(biāo)準(zhǔn)，適用于鋁、銅等非磁性金屬基材，利用涂層厚度對電渦流強(qiáng)度的干擾特性，測量非導(dǎo)電涂層（如陽極氧化膜、塑料涂層）的厚度。

核心測量性能

范圍與精度：測量范圍隨探頭及材料組合靈活變化，覆蓋多種涂層厚度需求；精度達(dá) ±(1% 讀數(shù) + 1µm)，確保數(shù)據(jù)可靠。

分辨率：最小分辨率為 0.1µm，可捕捉涂層厚度的微小差異，滿足高精度檢測場景。

探頭適配性：支持多種可更換數(shù)字探頭，兼容 F 系列探頭（需 DMP-F 適配器），適配平面、曲面、小孔等復(fù)雜工件的測量需求。