針孔和孔隙檢測(cè)

基體的過早腐蝕通常是由涂層被破壞所 造成的。引起涂層破壞的一個(gè)主要原因 是已覆蓋的涂層存在一些缺陷。其中一 個(gè)主要的缺陷類型是涂層孔隙，如下所 列： 流走和流掛：濕涂層在重力作用下流動(dòng) ，留下薄層干膜。 疵點(diǎn)：涂層不會(huì)重新流動(dòng)而覆蓋氣泡從 涂層表面逸出時(shí)所留下的空隙。 縮孔：基體潮濕或涂層流動(dòng)性差而產(chǎn)生 的空隙。 針孔：空氣逸出表面或本該清除的殘留 微粒（如灰塵、沙粒等）造成。 涂層過厚：當(dāng)基體上涂有過多涂層時(shí)， 涂層干燥后由于涂層內(nèi)力作用會(huì)使涂層 產(chǎn)生裂紋。 涂層不足：沒有涂上涂層的地方或涂層 從特殊邊緣、基體角落及焊縫流走。甚 至， 在粗糙的表面上，涂層不足會(huì)造成表面 波峰暴露。 所以要考慮到維修成本及相應(yīng)的生產(chǎn)損 失。對(duì)涂層的早期檢測(cè)可以防止涂層破 壞而引起的不便及昂貴的修理費(fèi)用。用 于檢測(cè)涂層缺陷的儀器可參照許多不同 的稱謂，包括電火花或JEEP檢測(cè)儀、孔 隙或空隙探測(cè)器和針孔檢測(cè)器。 

有兩種檢測(cè)方法：

濕海綿測(cè)試技術(shù) ：

適合探測(cè)導(dǎo)電基體上500µm（20mils）以 內(nèi)的絕緣涂層內(nèi)的針孔。濕海綿測(cè)試技 術(shù)，適用于粉末涂層和較薄涂層的檢測(cè) 。 用濕潤(rùn)劑潤(rùn)濕海綿，加上低電壓，海綿 在涂層上移動(dòng)，遇到缺陷時(shí)，液體會(huì)滲 入基體，形成一個(gè)完整的電流回路，電 流通過檢測(cè)器會(huì)發(fā)出警報(bào)聲。 這種技術(shù)會(huì)識(shí)別基體未被覆蓋的各種涂 層缺陷，如疵點(diǎn)、縮孔、針孔、涂層過 厚、涂層不足等。 

高壓測(cè)試技術(shù)： 

查找出導(dǎo)電基體上絕緣涂層的所有缺陷 。高壓測(cè)試技術(shù)可用于測(cè)試厚度至7 mm（275mils）涂層缺陷。適用于檢測(cè)管 道和其它保護(hù)性涂層的缺陷。該方法也 同樣適用于混凝土涂層。 儀器產(chǎn)生直流高壓施加到合適的探頭上 ，基體接地，當(dāng)探頭通過涂層表面時(shí)， 缺陷點(diǎn)會(huì)以電火花顯示，儀器發(fā)出警報(bào) 聲。 該技術(shù)適用于確定上述所有缺陷，但是 在薄涂層一定要小心使用。（文章來自易高，侵刪）